X-ray diffraction at constant penetration depth : a viable approach for characterizing steep residual stress gradients

Beck, Tilmann; Erbacher, Thomas; Wanner, Alexander; Vöhringer, Otmar

Oxford : Blackwell (2008)
Fachzeitschriftenartikel

In: Journal of applied crystallography : JAC
Band: 41
Heft: 2
Seite(n)/Artikel-Nr.: 377-385