Defect mapping in pipes by ultrasonic wavefield cross-correlation: A synthetic verification

Nguyen, Luan T. (Corresponding author); Kocur, Georg K.; Saenger, Erik H.

Amsterdam [u.a.] : Elsevier (2018)
Fachzeitschriftenartikel

In: Ultrasonics
Band: 90
Seite(n)/Artikel-Nr.: 153-165

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